高靈敏度 · 高精度 · 高分辨率 「簡單?易懂的操作」

從軟件到硬件凝結(jié)了，鑄就了新一代EPMA。島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎(chǔ)上，又新增了簡單·易懂的操作性能，將電子探針功能發(fā)揮致。既可滿足初學(xué)者簡易操作的需求，又能適合專家級的科研分析。

設(shè)計的X射線分光器可以實現(xiàn)高靈敏度·高精度分析

X射線取出角決定分析性能，52.5°高取出角更勝

圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵（Fe）、右下圖為鈦（Ti）的元素分布。

因EPMA-1720具有高取出角，對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。

從SEM觀察到開始分析，簡便易行，大幅度提高工作效率。

同一顯示器上同時顯示高靈敏度的光學(xué)圖像和SEM圖像

在同一個顯示器上觀察光學(xué)圖像和SEM圖像。

通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品

SEM圖像和光學(xué)圖像在同一顯示器上，減少視線的移動

只需單擊一下即可開始SEM圖像觀察

只需點擊【SEM AUTO】圖標，就可以根據(jù)事先設(shè)定的條件進行SEM圖像的觀察

束流變換更加簡單·快速·高精度，且保持聚焦

只需選定束流目標值即可快速、高精度地自動設(shè)定束流
通過聯(lián)動控制，束流大小改變后也能保持圖像聚焦狀態(tài)